台积电:HBM 封装短期仍用微凸块
ChainCatcher 消息,据材料行业消息人士 9 月 2 日透露,台积电预计短期内会继续沿用传统微凸块技术,而非混合键合,来完成 HBM 与 AI 加速器之间的先进封装连接。更细间距的微凸块,考虑到相关材料开发周期,预计将沿用至 HBM4 后期及 HBM5 早期。
5μm 级凸块量产要到 2028 年下半年
台积电已要求材料和设备合作伙伴开发约 5 微米级凸块的键合与底部填充方案,韩国和日本供应商已开始开发,5μm 级凸块的量产预计于 2028 年下半年开始。
凸块高度:HBM3E 约 15–25μm,HBM4 接近 10μm
目前第三代扩展 HBM,即 HBM3E,凸块高度约为 15–25μm;HBM4 接近约 10μm。日本材料供应商此前表示,难以保证 15μm 以下产品的品质。
高度限制与互连密度推动凸块细密化
缩短并细化凸块,是因为 HBM 立方体的高度限制和对更高互连密度的需求。JEDEC 规定,HBM 堆叠的最大高度为 775μm。
CoWoS 中的封装分工
在台积电先进 CoWoS 封装中,GPU 与存储器供应商已组装好的 HBM 堆叠通过微凸块安装到硅中介层上;16 层 DRAM 晶粒堆叠由 SK hynix 和三星电子等在 HBM 封装内完成。第一代和第二代 HBM 使用较大的焊料凸块,微凸块在 HBM3 这一代左右成为主流。SK hynix 使用 MR-MUF 工艺,三星电子使用 TC-NCF。
混合键合通过直接键合铜焊盘,可形成更薄、更密的互连。台积电已在 SoIC 平台的逻辑芯片堆叠中采用混合键合,但 HBM 仍以微凸块连接中介层。
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